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JPK细胞力谱仪

CellHesion® 200-单分子精确度的定量测量细胞粘附力和对外加机械压力的响应

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场发射电子显微镜SUPRA 40/40VP

SUPRA 40是一款高分辨率场发射扫描电子显微镜,拥有第三代GEMINI 镜筒,可变压强性能加上多种纳米工具的使用,不用花费大量时间,使高分辨率成像和非导体样本的分析成为可能,超大的样品室适合各种类型探头及配件的选择。该场发射电镜适用于材料领域、失效分析、过程控制

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精工(Seiko)扫描探针显微镜

Nanocute: 基本型  S-image为多功能型  L-trace II为大样品台型   E-SWEEP型为可控环境型

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扫描探针显微镜

SPM是一个大的种类,目前,SPM家族中已经产生了二三十种显微镜,如扫描隧道显微镜STM)、原子力显微镜(AFM)、磁力显微镜(MFM)、静电力显微镜(EFM)、近场光学显微镜(SNOM)等等。 SPM的工作原理是基于微观或介观范围的各种物理特性,通过原子线度的极细探针在被

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高性价比扫描隧道显微镜

意大利国家凝聚态物理实验室。 低电流原子或分子的成像分辨率的STM。隧道电流可到500 fA,允许在高电阻测量软件系统。   STM还可适合原子力显微镜AFM的测量工具的选配。

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磁力显微镜/静电力显微镜

抬起模式:该工作模式分两个阶段,第一阶段与普通原子力显微镜形貌成像一样,在探针与样品间距1nm以内成像,然后,将探针抬起并一直保持相同距离,进行第二次扫描,该扫描过程可以对一些相对微弱但作用程较长的作用力进行检测,如磁力或静电力。       磁力显微镜(Mag

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扫描隧道显微镜

STM(Scanning Tunneling Microscope的简称)的工作原理来源于量子力学中的隧道效应原理。当金属探针在与导电样品非常接近时(小于1nm),控制探针在样品表面进行逐行扫描,检测探针与样品间隧道电流的变化来获取样品表面形貌、I-Z、I-V曲线等其它特性。  由于要在探针

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原子力显微镜

AFM是SPM重要的发展。它控制一个微悬臂探针在样品表面进行逐行扫描,当探针在与样品非常接近时(小于1nm),由于两者间原子的相互作用力,使对微弱力极敏感的微悬臂发生偏转,再通过光杠杆作用将微小偏转放大,用四象限光电探测器检测,以获取样品表面形貌和其它物理、

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