sunscan植物冠层分析系统
产品名称： sunscan植物冠层分析系统
英文名称：
产品编号： SUNSCAN植物冠层分析系统
产品价格： 0
产品产地： 英国
品牌商标： SUNSCAN植物冠层分析系统
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一、用途：
通过测量作物冠层PAR值提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数（LAI）；SunScan探测器也可被用来描绘作物冠层PAR的分布图。
二、原理：
根据冠层吸收的Beer法则（Beer’s law for canopy absorption）、Wood的SunScan冠层分析方程以及Campbell的椭圆叶面角度分布方程 (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations)，使用光量子传感器来测量、计算和分析植物冠层截获和穿透的光合有效辐射及叶面积指数。
三、系统组成：
·SunScan探测器：一支1米长，内嵌64个光合有效辐射传感器的的探测器
·反射系数传感器（BFS）：综合了2个PAR传感器，并能很容易地计算出作物冠层的PAR及直射光与漫射光（the beam fraction）的比例关系
·数据采集终端：一种从采集和分析读数的高效、轻便的掌上电脑，内含2M内存
·SunData软件：用来对测量参数进行分析处理
·三角架：用来安放BFS
四、可选件：
BF2传感器：替换BFS后，可使测量操作更方便
五、基本技术指标：
·探测器工作区域：1000x13mm宽，传感器间距15.6mm
·探测器光谱响应：400-700nm (PAR)
·探测器测量时间：120ms
·探测器分辨率：0.3μmol. m-2.s-1
·探测器最大读数：2500μmol.m-2.s-1
·操作温度：0 - 60℃
·BFS电缆长度：标准为7米，可扩展到100米
·内存：2M内存，包含程序；1600K RAM 可用于储存数据