WinDENDRO年轮分析系统
产品名称： WinDENDRO年轮分析系统
英文名称：
产品编号： WinDENDRO
产品价格： 0
产品产地： 加拿大
品牌商标： WinDENDRO
更新时间： null
使用范围： null
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WinDendro 年轮分析系统
一、 用途：
WinDENDRO是植物年轮测量及分析的系统。测量操作简单，提供全数字化电脑图形分析。
二、 原理：
WinDENDRO是利用高质量的图形扫描系统取代传统的摄象机系统。扫描系统能提供高分辨率的彩色图象和黑白图象。采用专门的照明系统去除了阴影和不均匀现象的影响，有效的保证了图象的质量。增大了扫描区域，以供分析。还可以读取TIFF标准格式的图象。
三、 组成：
1、WinDENDRO年轮分析软件（基本版/标准版/密度版）For Win9x，WinMe，Win2000，WinXP
2、扫描仪：类型LC4800-II、LA2400，各型号扫描仪之间区别如下
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类型 |
LC4800-II |
LA2400 |
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光学分辨率 |
4800 |
2400 |
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年轮扫描面积 |
22cm x30cm |
31cm x44cm |
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扫描X光胶片特殊光系统（SLS） |
包括（密度版） |
可选（扫描X光胶片需要安装SLS，密度板） |
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X光胶片扫描功能及面积 |
20 cm x25 cm |
31 cm x42 cm |
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最小像素尺寸（mm） |
0.008 x0.008 |
0.011 x0.011 |
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光学密度 |
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3.8Dmax |
3、样品芯固定系统与样品芯定位工具
固定系统三种规格：22 cm适用于LC，STD和LA
36 cm适用于LA&STD
43 cm：适用于LA
4、XLSTEM茎杆分析插件（For MS-EXCEL）可选件
5、电脑（最低配置：Pentium III / 64 MB内存 / 17"显示器）用户自备
四、 基本技术指标：
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WinDENDRO 版本 | ||
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特 点 |
基本版 |
标准版 |
密度版 |
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水平、垂直方向测量年轮 |
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延直线方向测量年轮（单节） |
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年轮宽度测量 |
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自动年轮监测方式（强度不同） |
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通过扫描测量年轮 |
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判断无效的年轮 |
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图象对比度增强功能 |
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彩色和黑白可调 |
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测量年轮宽度时计算年轮角度 |
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当样品有缺陷时，估算丢失的年轮 |
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以各种方向测量年轮 |
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测量复杂形状样品的年轮（多节） |
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年轮宽度、十字交叉图象及相关性 |
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幼苗宽度测量 |
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用户可调节智能幼苗清晰度 |
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每环的反射光测量（最小值、最大值、平均值、方向） |
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基于象素的数据 |
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存储年轮宽度以“树心-边缘”/“边缘-树心” |
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存储最后部分年轮 |
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忽略缺口部分 |
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讲述 & 演示年轮自动监测算法 |
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针对年轮增加注释或观察资料 |
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可自定义设置一些参数（例如：名字，类型等） |
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可以测量其他设备采集到的图象（如：摄象机等） |
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手工测量图象的边材宽度 |
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免费赠送WinCELL 标准版软件（树木细胞分析软件） |
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年轮密度测量（最小值，最大值，平均值，方向） |
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五、产地：加拿大