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简介：

•          本测量器可以用非常简单且高精度的方式,测量在常温中的各种物体的放射率。是本公司自身的产品。

•          本测量器早已经由宇宙开発、原子力、半导体产业等的尖端技术分类上所采用。从研究开発应用至生产线上的应用等，可供活用的范围非常广泛。

•          选配记录器，可将所测量值记录并连接PC获取数据及绘制曲线，分析放射曲线、最大、最小、平均值。

应用：

●在机器的热设计中必须使用的零件的放射率测量

•          ●藉由放射温度计的测量物体来补正放射率

•          ●各种零件的加工／处理前后的放射率比较

•          ●其他、从零件的放射率求取物体本身的放射率等

•          ●材料科学院、实验领域必须的检测分析设备

产品构成：

•          １．红外线照射源

•          藉由在一定温度中加热后的半球面黒体炉，在试料中集中照射。

•          ２．红外线检验素子

•          从试料反射出的能量的一部分，射进半球面黒体炉的顶点的小孔，用一定比率做检验。

•          注：比率是依据光学系的构造来决定。

•          ３．放射率演算回路

•          从反射能量检验器的输出，演算试料的放射率。

•          注：试料的反射率和放射率的关系式如下：r εε＝１－r

•          ４．放射率表示値的校正

•          利用附属的放射率基准片（ε＝０．０６与０．９４）做校正

测量原理：利用恒温放射的远红外线放射源，将能量照射后计算所反射的能量。

测量波长：2-22μｍ

测量范围：0.00-1.00

额定精度：±0.01

测量面积：Φ15mm

测量距离：12mm（固定侦测头的脚柱部）

被测物温：10-40℃（室温）

输　　出：0-0.1V，0-1V（满载）

使用温度：10-45℃

使用湿度：35-85%RH（未结露、霜之状态）

使用电源：AC100V ±10%，50/60Hz

外型尺寸：侦测头Φ51X137mm（0.5Kg）     本　体H170X W306ｘD230mm（5Kg）

附属装置：放射率0.94、TUNEology 波长可调检测卡盒-->